設(shè)計(jì)驗(yàn)證 New
系統(tǒng)及單晶片架構(gòu)探索以及設(shè)計(jì)驗(yàn)證平臺(tái),不僅免去了構(gòu)建模型的工程,同時(shí)也加速了復(fù)雜設(shè)計(jì)的模擬。確保模型正確性,大幅縮短產(chǎn)品開(kāi)發(fā)時(shí)長(zhǎng)。
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